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武汉东隆科技有限公司自研的光矢量分析仪OCI-V其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用光路设计以及先进算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。
特点：
• 自校准测量长度：200m
• 波段：C+L、O波段（可选）
• 1秒内测量多种光学参数
应用：
•平面波导器件、硅光器件、光纤器件。
• 波长可调器件、放大器、滤波器。
• 测量参数：偏振相关损耗PDL，偏振模色散PMD，插损IL，群延时GD，色散CD，琼斯矩阵参数，光学相位。
参数：
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主要参数 |
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测量长度 |
200 |
m |
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波段 |
C+L 波段：1525~1625；O 波段：1268~1340 |
nm |
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波长分辨率 |
1.6 |
pm |
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波长精度 |
±1.0 |
pm |
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损耗（IL） |
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动态范围 |
60 |
dB |
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插损精度 |
±0.1 |
dB |
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分辨率 |
±0.05 |
dB |
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群延时 （GD) |
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量程 |
6 |
ns |
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精度 |
±0.2 |
ps |
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损耗范围 |
45 |
dB |
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色散（CD） |
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精度 |
±10 |
ps/nm |
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偏振相关损耗（PDL) |
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动态范围 |
40 |
dB |
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精度 |
±0.05 |
dB |
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偏振模色散（PMD） |
|
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|
量程 |
6 |
ns |
|
精度 |
±0.1 |
ps |
|
损耗范围 |
40 |
dB |
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硬件 |
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主机功率 |
50 |
W |
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通讯接口 |
USB |
- |
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光纤接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
D 450 * W 450 * H 166 |
mm |
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重量 |
18.5 |
kg |
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储藏温度 |
0 ~ 50 |
℃ |
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工作温度 |
10 ~ 40 |
℃ |
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工作湿度 |
10 ~ 90 |
%RH |
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