S-MPL系列显微荧光成像系统简介

• 光致发光(photoluminescence)即PL，是用紫外、 可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半 导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波 长如325nm、532nm、785nm等）激发材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽 度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境 原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析 方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等 相关领域被广泛应用。
• 传统的荧光光谱仪一般采用透镜收光的方式，针对发光 非常微弱的纳米材料，即便用激光器激发，也很难获得 较好的信号。结合多年的实际测样经验，我司推出了显 微PL系统，采用显微物镜收光，较传统的荧光光谱仪其 收光效率提升了至少3个数量级，因此特别适用于传统 荧光系统难以检测到的微弱信号，另外其辅助的白光成 像功能，还可以实现微区（微米级）定位测量。

应用领域：

• 半导体材料
• 二维材料
• 纳米材料
• 薄膜材料
• 光波导器件
• LD, LED外延片

产品特点：

• 光谱范围：200-1700nm
• 光斑大小：≤10μm（325nm激光、100X物镜）
• 光谱分辨率：优于0.1nm
• 白光成像分辨率：亚微米级
• 激光器：266nm、325nm、360nm、405nm、488n- m、510nm、532nm、633nm、785nm等可选
• 样品台：手动/电动可选
• 采谱模式：单点扫描/线扫描可选

 S-MPL系列显微荧光成像系统系统功能：

• 微区PL测量
• 可同时配置多路激光器
• 自由光路耦合，保障大光效率
• 显微光路设计，保障大激发、收集效率
• 高精度位移台，实现微米级定位测量

扩展功能：

• 微区电致发光（EL）测量
• 荧光寿命测量：ps-ms量级
• 自动Mapping功能：50mm×50mm行程，步进精度 1μm
• 光电流谱（成像）测量
• 光电材料响应度测试
• 变温附件：77K-600℃/4K、10K超低温

S-MPL系列显微荧光系统 

更多详情咨询：

http://www.boming021.com/SonList-2217255.html 
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